Thick800a优惠的X射线测厚仪

X射线测厚仪是解决镀金层，镀银层，镀镍层厚度测试的仪器，具备无损分析，快速测试，简便操作的特性，分析范围是0-50微米，不同的镀层种类都有特定的极限穿透厚度，其分析精度达0.005微米，thick800aX射线测厚仪由江苏天瑞仪器公司研发，生产的，的高科技分析仪，产品荣获国家分析仪器产品奖。随着市场竞争日益激烈，企业成本的不断提高，客户对X射线测厚仪（THICK800A)的测试精度要求越来越高，普通的电镀膜厚测试仪无法满足客户的要求，X射线测厚仪通过X射线照射，不同元素的发射出不同能量及强度的X光，通过接收器及软件分析来分析金属（铝合金、铜合金）电镀层（镀锌、镀镍、镀金、镀银、镀锡等）的厚度，天瑞仪器是X射线测厚仪（国产）厂家，*无损分析，多一次分析五层，薄可分析0.005μm，采用上照式照射，移动探测器和X光管上下可动，可以对凹面和凸面达到更好的测试效果，完成下照式对某些特殊样品无法测试的效果。 

性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
*工作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。