SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪——超级X荧光光谱仪

仪器介绍

SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和*的光路系统测试 (超锐模式)，普通模式能完成全元素，贵金属，RoHS，镀层等常规测试，超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更精确的测试。主要是使用天瑞仪器*超锐光路系统，降低仪器的背景噪音，提高仪器的检出能力，从而提高仪器的整体检测性能。

技术指标

元素分析范围从钠（Na）到铀（U） 
可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率 
可对10个样品进行自动切换测试 
一次可同时分析zui多几十种元素 
分析检出限zui高可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9％ 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
*工作稳定性为0.1％ 
温度适应范围为15℃至30℃ 
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

标准配置

超锐X光源和样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器，滤光片 
高清晰CCD摄像头 
SDD探测器 
数字多道采集处理系统 
高低压电源 
进口400W端窗光管油冷散热系统，具有自动控温功能
样品自动切换系统 
全自动真空系统 
专业X荧光分析软件 
计算机及喷墨打印机 
外观尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
样品腔尺寸：￠376×50 mm 
重量：小于250Kg

性能特点

特殊光路系统 
采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。

400W大功率X光源 
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。

数字多道技术 
采用数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。

油冷散热系统 
油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。

光闸系统 
光闸系统，保证X光源的稳定性，同时提升X光管使用寿命。

抽真空系统 
抽真空系统，可以满足轻元素的测量。

自动进样系统 
自动进样系统，可以一次连续检测十二个样品，大大提高了测试人员的工作效率。

SUPER XRF 2400侧试模式

普通模式：为普通仪器的常规测试。

超锐模式：使用天瑞仪器*超锐光路系统，SUPER XRF 2400使用的原理主要能实现两大功能，降低背景，提高检出能力。

一、如图一所示，下图为测土壤中的V（绿）和Cr（红）。实谱为超锐模式，测得的谱图，红色虚谱为普通模式谱图。由图可看出，对于关注元素。超锐模式明显出峰，而普通模式几乎没有出峰。

二、下图二所示，为测土壤中的Zr，实谱为超锐模式所测谱图，红色虚谱为普通模式所测谱图。超锐模式所测得的Zr有效峰背比强度为210.05。普通模式所测得的Zr在相同测试条件下有效峰背比强度为155.72。由图可以看出超锐模式比普通模式出峰要好，而且超锐模式降低了背景。

从以上谱图一可以看出，我们在进行常规测试时。由于土壤中的V、Cr含量低。是无法检测出其含量的。谱图二中，虽然Zr能检测出峰，但是其背景也比较高，对测试的结构影响比较大。而在使用天瑞仪器*超锐光路系统，能降低背景，检测出低含量的元素，提高仪器的检出能力。从而提高仪器的整体测试效果。

应用领域

SUPER XRF 2400不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要，而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业。